Masterarbeit, 2015
55 Seiten, Note: 1,0
1 Einleitung und Aufgabenstellung
2 Theoretischer Hintergrund
2.1 Einführung in die Atomlagenabscheidung
2.1.1 Wachstumsinhibierung durch Passivierung
2.1.2 Alternierendes Wachsen dünner Schichten Aluminiumoxid und Titandioxid mittels Atomlagenabscheidung
2.2 Aufbau und Prinzip der Quarzkristall-Mikrowaage
2.2.1 Elektronische Ansteuerung der Quarzkristall-Mikrowaage
2.2.2 Störeinflüsse auf die Messgenauigkeit
2.3 Quarzkristall-Mikrowaagen in der Atomlagenabscheidung
3 Einrichtung und technische Optimierung des Messaufbaus
3.1 Systemspezifische Störanfälligkeiten der Quarzkristall-Mikrowaage
3.1.1 Anfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen
3.1.2 Rückseitenbeschichtung
3.1.3 Temperatursteuerung
3.2 Optimierung des Signal-Rausch-Verhältnisses
3.3 Wasserausschluss im Reaktor
4 Experimenteller Teil
4.1 Allgemeine Aspekte der Durchführung
4.2 Datenauswertung
4.3 Der Einfluss der Pumpzeit auf das Titandioxid-Wachstum
4.3.1 Durchführung
4.3.2 Ergebnisse und Diskussion
4.4 Alternierendes Abscheiden von Aluminiumoxid- und Titandioxid-Schichten
4.4.1 Ergebnisse und Diskussion: Initiales Wachstum von Titandioxid auf Aluminiumoxid
4.4.2 Ergebnisse und Diskussion: Initiales Wachstum von Aluminiumoxid auf Titandioxid
4.4.3 Abscheidungen mit Ozon
4.5 Zusammenfassung der Beobachtungen und Einordnung in den Gesamtkontext
5 Zusammenfassung und Ausblick
Die Arbeit untersucht das initiale Wachstumsverhalten bei der Atomlagenabscheidung (ALD) von alternierenden Schichten aus Titandioxid und Aluminiumoxid. Das primäre Ziel ist die Quantifizierung des initialen Wachstums pro Zyklus (WPZ), um zukünftige Dotierungsprozesse präziser steuern zu können und qualitative Aspekte sowie Ursachen für das beobachtete Wachstumsverhalten zu identifizieren.
2.1 Einführung in die Atomlagenabscheidung
Die ALD ist eine spezielle Form der chemische Dampfphasenabscheidung (engl. chemical vapor deposition) (CVD), die gegenüber dieser einige Vorteile bietet. Dazu zählen unter anderem die besonders genaue Schichtdickenkontrolle, die Möglichkeit auch drei-dimensionale Objekte mit großem Aspektverhältnis ohne Abschattungen beschichten zu können, die geringen Prozesstemperaturen (z.B. im Vergleich zur CVD), sowie Schichten besonders hoher Güte und Reinheit erhalten zu können. Möglich ist dies durch das spezielle Prinzip sukzessiver einander folgender, selbstlimitierender Gas-Feststoff-Reaktionen auf der Zieloberfläche.
1 Einleitung und Aufgabenstellung: Einführung in die Bedeutung des initialen Wachstums bei ALD-Prozessen und Vorstellung der Forschungsfrage zur Untersuchung von Nanolaminaten.
2 Theoretischer Hintergrund: Erläuterung der ALD-Grundlagen, des Prinzips der Quarzkristall-Mikrowaage sowie Ansätze zur Wachstumsinhibierung.
3 Einrichtung und technische Optimierung des Messaufbaus: Beschreibung der apparativen Anpassungen zur Steigerung der Messgenauigkeit, insbesondere der Störungsreduzierung und Temperaturführung.
4 Experimenteller Teil: Präsentation und Diskussion der experimentellen Ergebnisse zum Einfluss der Pumpzeit sowie zum alternierenden Wachstum von Titandioxid und Aluminiumoxid.
5 Zusammenfassung und Ausblick: Resümee der gewonnenen Erkenntnisse über die initiale Wachstumsdynamik und Ausblick auf zukünftige Forschungsansätze wie FTIR-Studien.
Atomlagenabscheidung, ALD, Quarzkristall-Mikrowaage, QCM, initiales Wachstum, Wachstum pro Zyklus, WPZ, Nanolaminate, Titandioxid, Aluminiumoxid, Superzyklen, Wachstumsrate, Oberflächenchemie, Schichtdickenkontrolle, Massenbelegung
Die Arbeit befasst sich mit der Untersuchung des initialen Wachstumsverhaltens bei der Atomlagenabscheidung von Schichtsystemen aus Titandioxid und Aluminiumoxid unter Verwendung einer ultra-genauen Quarzkristall-Mikrowaage.
Die zentralen Themen sind die Prozessoptimierung von ALD-Anlagen, die Charakterisierung der Quarzkristall-Mikrowaage als Messinstrument sowie die Analyse des Einflusses von Schichtvorgeschichte und Pumpzeiten auf das initiale Schichtwachstum.
Das Hauptziel ist die Quantifizierung des initialen Wachstums pro Zyklus (WPZ), um die Dotierungsdosierung bei Nanolaminaten präziser steuern zu können und die zugrunde liegenden Mechanismen des Wachstumsverhaltens zu verstehen.
Die Arbeit nutzt primär die in-situ Methode der Quarzkristall-Mikrowaage (QCM), ergänzt durch die Entwicklung neuer mathematischer Auswertungsansätze, die das Wachstum als Funktion der Massenbelegung darstellen.
Der Hauptteil gliedert sich in die technische Optimierung des QCM-Messaufbaus, die experimentelle Untersuchung der Pumpzeitabhängigkeit und die systematische Untersuchung des alternierenden Wachstums von Titandioxid- und Aluminiumoxid-Schichten.
Atomlagenabscheidung, ALD, Quarzkristall-Mikrowaage, QCM, initiales Wachstum, WPZ, Nanolaminate, Titandioxid, Aluminiumoxid und Massenbelegung.
Eine unbeabsichtigte Abscheidung auf der Rückseite des QCM-Kristalls verfälscht die Messwerte für die Frequenzänderung, was die direkte quantitative Bestimmung der Schichtdicke auf der Vorderseite erschwert und entsprechende Korrekturen oder experimentelle Anpassungen erfordert.
Im Gegensatz zum allgemeinen Konsens konnte gezeigt werden, dass das WPZ von Titandioxid mit zunehmender Pumpzeit ansteigt, was auf eine intrinsische Inhibition zurückgeführt wird, die durch die langsame Abspaltung von Isopropyl-Gruppen des verwendeten Präkursors verursacht wird.
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