Diplomarbeit, 2002
116 Seiten, Note: 1,0
1 Einleitung
2 LC- VCO
2.1 Oszillator - Allgemein
2.2 Grundstrukturen von LC- Oszillatoren
2.3 VCO – Tuning
2.3.1 Allgemein
2.3.2 Varaktor Diode
2.3.3 MOS-Varaktoren
2.3.4 Geschaltene Tuningbereiche
2.4 Phasenrauschen
2.4.1 Allgemeines
2.4.2 Auswirkungen des Phasenrauschen auf die HF-Kommunikation
2.4.3 Güte Q eines Oszillators
2.4.4 Entstehung des Phasenrauschens
3 Integrierte Spulen
3.1 Einleitung
3.2 Anforderungen an eine hochqualitative Spule
3.3 Spulenverluste bei einem CMOS Prozess
3.3.1 Intrinsische ohmsche Verluste
3.3.2 Kapazitiv gekoppelte Verluste
3.3.3 Magnetisch gekoppelte Verluste
3.4 Richtlinien für die Spulen Auswahl (-Design)
4 MOS-Varaktoren
4.1 Allgemeine Form
4.2 Inversions- und Akkumulations-Mode:
4.3 Gated Varaktor
5 VCO- Design
5.1 Anforderungen an das Design
5.2 VCO- Grundstruktur
5.3 Tuning
5.3.1 Ideales, gewünschtes Tuningverhalten
5.3.2 Reales Tuningverhalten
5.3.3 Auswahl und Dimensionierung des Tuning-Elements
5.4 Spule
5.4.1 Allgemeines
5.4.2 Auswahl der Spule
5.5 ALC – Automatic Level Control
5.5.1 Allgemeines
5.5.2 Funktionelle Beschreibung
5.6 Ausgangsstufe für den Testchip
5.7 Zusammenfassung der integrierten Testdesigns
5.7.1 Allgemeines
5.7.2 Beschreibung der einzelnen Teststrukturen:
6 Messergebnisse
6.1 Allgemeines
6.2 Testaufbau
6.3 Spannungstuning
6.4 Phasenrauschen
7 Resimulation anhand der Messergebnisse
7.1 Allgemein
7.2 Modellfindung für integrierte Spulen
7.2.1 ASITIC
7.2.2 Modellfindung anhand gemessener s- Parameter
7.3 Anpassung der Gesamtschaltung an das reale Verhalten
7.4 Designoptimierung an das gewünschte Verhalten
8 Zusammenfassung
Ziel dieser Arbeit ist die Entwicklung eines voll integrierten LC-VCOs in einer 0,35 μm CMOS-Technologie für den Einsatz in einer PLL eines HF-Transceivers. Dabei steht die Optimierung hinsichtlich eines möglichst linearen Tuningverhaltens, eines geringen Phasenrauschens sowie einer minimierten Stromaufnahme im Vordergrund.
2.4.1 Allgemeines
Ein wesentliches Thema im Zusammenhang mit der Leistungsfähigkeit von Oszillatoren ist das Rauschen. Externes Rauschen, das auf den Oszillator wirkt, sowie das Rauschen der internen Komponenten beeinflussen die Amplitude und die Frequenz des Ausgangssignals. Meist ist aber der Einfluss auf die Amplitude vernachlässigbar und in erster Linie die zufällige Variation der Frequenz von Bedeutung. Diese kann auch als eine zufällige Veränderung der Periode eines Signals angesehen werden, was am Beispiel eines Sinussignals sehr gut als phasenmäßige (oder zeitliche) Verschiebung des Nulldurchganges erkennbar ist. Daher auch der Name Phasenrauschen. Für unsere Zwecke ist aber die Betrachtung im Frequenzbereich aussagekräftiger.
Wenn man das Frequenzspektrum eines idealen Oszillators betrachtet, erhält man eine einzelne Spektrallinie, welche der gewünschten Trägerfrequenz mit einem bestimmten Signalpegel entspricht. Betrachtet man im Vergleich dazu das Spektrum eines realen Oszillators, erhält man einen kegelförmigen Verlauf um die Trägerfrequenz, der in größerer Entfernung zur Mittenfrequenz im sogenannten Noise-Floor versinkt, wie in Abb. 2.14 zu sehen ist.
1 Einleitung: Beschreibt den wachsenden Bedarf an integrierten HF-Schaltungen und die zentrale Rolle des VCOs innerhalb eines Transceivers.
2 LC- VCO: Erläutert die theoretischen Grundlagen für schwingfähige Strukturen, die Frequenzverstimmung und die physikalischen Ursachen von Phasenrauschen.
3 Integrierte Spulen: Analysiert die Herausforderungen bei der Integration von Spulen in CMOS-Prozessen und diskutiert verschiedene Verlustmechanismen.
4 MOS-Varaktoren: Untersucht verschiedene Typen von Varaktoren als Tuning-Elemente und deren Eignung für den Einsatz in integrierten Oszillatoren.
5 VCO- Design: Beschreibt den Entwicklungsprozess, die Auswahl der Architektur, die Dimensionierung der Bauteile und die Implementierung der Amplitudenregelung.
6 Messergebnisse: Präsentiert die experimentellen Daten der Teststrukturen und analysiert das Tuningverhalten sowie das Phasenrauschen.
7 Resimulation anhand der Messergebnisse: Dokumentiert die Anpassung der Simulationsmodelle an die realen Messdaten und die Designoptimierung durch Redesign.
8 Zusammenfassung: Fasst die wesentlichen Erkenntnisse der Diplomarbeit zusammen und bewertet die Erreichung der Zielsetzungen.
LC-VCO, Phasenrauschen, CMOS, Varaktor, Tuning, Frequenzmodulation, Oszillator, Transceiver, Spulenverluste, HF-Technik, PLL, Integration, Schwingkreis, Amplitudenregelung, Testdesign
Die Diplomarbeit befasst sich mit dem Entwurf und der Entwicklung eines voll integrierten LC-VCOs in einer 0,35 μm CMOS-Technologie für den Einsatz in HF-Transceivern.
Die Arbeit behandelt schwerpunktmäßig das Design von Oszillatorschaltungen, die Charakterisierung von Spulenverlusten, die Analyse von Varaktor-Tuning-Elementen und die Optimierung des Phasenrauschens.
Das Hauptziel ist die Realisierung einer optimalen VCO-Struktur, die ein lineares Tuningverhalten mit geringem Phasenrauschen und minimalem Stromverbrauch in einem CMOS-Prozess vereint.
Es wird eine Methodik aus theoretischer Analyse, umfangreicher Simulation mit spezialisierten Tools (wie ASITIC) und einer experimentellen Validierung durch Testchips auf Silizium kombiniert.
Der Hauptteil gliedert sich in die theoretische Herleitung der Oszillator-Grundstrukturen, die detaillierte Analyse der Bauteile (Spulen und Varaktoren), das konkrete Design der VCO-Schaltung inklusive ALC sowie die Auswertung der Messergebnisse.
Die wichtigsten Begriffe umfassen LC-VCO, Phasenrauschen, CMOS, Varaktoren, Tuning, Oszillator und HF-Technik.
Phasenrauschen limitiert die Leistungsfähigkeit eines HF-Systems, da es durch Störungen benachbarter Signale die Kommunikationsqualität (Blocking-Performance) erheblich verschlechtern kann.
Integrierte Spulen sind die leistungslimitierende Komponente im LC-VCO. Die Güte der Spule entscheidet maßgeblich über das Phasenrauschen und die benötigte Stromaufnahme des Oszillators.
Das Redesign war notwendig, da Abweichungen zwischen Simulation und Messung auftraten, die durch unerwartete parasitäre Effekte im Layout verursacht wurden, um die ursprünglichen Spezifikationen präziser zu erreichen.
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